低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的確定

1）通過腔衰減時(shí)間測量，可以非常地測量反射率值R> 99％，透射率值T> 99％的低損耗光學(xué)元件。 與光譜儀中的測量相比，該方法有三個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)：

2）適用于非常高的反射率和透射率

3）不可能獲得高于實(shí)際值的測量值

4）它具有非常高的精度

基本CRD測量設(shè)置

Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng)，可以穩(wěn)定地控制光學(xué)元件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細(xì)信息，請參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)和腔體衰減時(shí)間測量簡介”。

您可以在這里下載我們的目錄。

Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng)，可以穩(wěn)定地控制光學(xué)元件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細(xì)信息，請參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)和腔體衰減時(shí)間測量簡介”。

您可以在這里下載我們的目錄。

相位優(yōu)化fs激光寬帶鏡 - CRD測量示例

低損耗鏡 - CRD測量示例  

車鏡 - 寬帶CRD測量示例  

薄膜偏振器 - CRD測量示例